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大型中高端工业芯片需要高效全面的测试来保证高质量的芯片产品，特别是高端的车规芯片更是需要零瑕疵的电子元器件，相同的要求同样应用在其它生命攸关的产品中。为达到这样高端的要求，测试设计被DFT工程师引入到芯片设计中，从而可以产生相应的测试向量来高效地测试芯片。